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高溫四探針測(cè)試儀上市了

日期：2025-04-24 00:35

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摘要：高溫四探針測(cè)試系統(tǒng) 1.測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率； 2.、觸摸屏、高溫爐等集成于一體，可以進(jìn)行可視化操作； 3.現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量；同時(shí)保證探針在高溫下不氧化； 4.labview軟件開發(fā)，操控性、兼容性好、方便升級(jí)； 5.動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓，探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象； 6.和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度； 7.套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表；

高溫四探針測(cè)試系統(tǒng)

1.測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；
2.、觸摸屏、高溫爐等集成于一體，可以進(jìn)行可視化操作；
3.現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量；同時(shí)保證探針在高溫下不氧化；
4.labview軟件開發(fā)，操控性、兼容性好、方便升級(jí)；
5.動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓，探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象；
6.和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度；
7.套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表；

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