產品特點
可用于評估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。
01.64個通道的自動測量該系統(tǒng)可以測量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。 您可以選擇8~64個通道。
02. 圖形功能允許實時查看測量結果收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查。
03.多種可選夾具適用于不同的試驗樣本（可選） 除了 SMD 組件的專用夾具外，我們還提供了根據(jù)離散設備形狀定制的夾具。
04.可從不同測試模式選擇溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。
<溫度特性評估測試> 在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步。
<持續(xù)運行測試> 該測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移 的特征自動記錄數(shù)據(jù)。
<頻率特性評價試驗> 該試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相結 合。
應用程序
電容器
01.靜電容量(C)
02.損失因子(D)
03.阻抗的溫度特性 (Z)
04.頻率特征
電子材料
01.印刷電路板
02.通量
03.絕緣材料（樹脂、薄膜等）
04.介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）
產品參數(shù)
01.測量項目：靜電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) *和電感 (Ls，Lp) *
02.檢測項目：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化） 恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化） 頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）
03.通道配置：8通道（標準）；值64通道可擴展8通道增量
04.測量方法：交流四端對測量
05.測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz 靜電容量 (C)：50 pF ~ 5 mF 損失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999
06.靜電容量 (C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999
阻抗 (Z)：10 mΩ ~ 100 mΩ
07.測量儀器：LCR 計 (Keysight Technologies)
08.測量范圍：選擇AUTO，10Ω，100Ω，300Ω，1kΩ，3kΩ，10kΩ，30 kΩ或100 kΩ
09.直流偏壓：±0 ~ ±40V
10.測量間隔：1 min ~ 1500 min（恒定運行期間）
11.溫度步驟：從規(guī)定40步開始/結束溫度的模式中選擇 以及輸入所需溫度的步長間隔和模式
12.頻率步長：值50步（設置為所需值）
13.補償：短時補償，開放補償
14.環(huán)境試驗系統(tǒng)控制：使溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步 具有 RS-485 功能的環(huán)境測試系統(tǒng)。
15.測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）
16.外部尺寸：530（寬）×1832（高）×800（深）mm（不包括突出部分）
17.設備電源：100 VAC ±10% 1φ 50/60 Hz 15 A
